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Rasterionenleitfähigkeitsmikroskop

Das ICnano 2015 Rasterionenleitfähigkeitsmikroskop (SICM) ist ein hochentwickeltes Mikroskopsystem für den Nanometerbereich. Es besteht aus einem Scankopf, einem Controller und dem Datenerfassungssystem.

Die robuste mechanische Ausführung des ICnano 2015 sorgt für hochgenaue Messungen. Es kann als Standalone-System verwendet oder in ein invertiertes Licht- (oder konfokal) Mikroskop integriert werden. Die Ionscope Software bietet eine Vielzahl von unterstützten Modi und eingebaute Systemfunktionen wie automatische Immersion, Oberflächenerkennung, Echtzeit-
Ionenstrom-Anzeige, Echtzeit 2D und 3D-Anzeige des Bildaufbaus.

SICM ist eine vielseitige Plattform, die neue Methoden und Erkenntnisse sowohl für die Life Science und Materialwissenschaften ermöglicht. Neurologen und Kardiologen verwenden das Ionscope System, um grundlegende Prozesse bei Krankheiten und Therapien zu untersuchen. Aufgrund der einzigartigen Kombination von nanoskaligen topographischen und physiologischen Informationen bietet das SICM System hier sehr viele Möglichkeiten und Vorteile.

Materialwissenschaftler verwenden die Ionscope Systeme, um nanoskalige Veränderungen an der Elektrodenoberfläche von Batterien zu beobachten, welche bei der Ladung und Entladung entstehen.


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Kennziffer: 509
Ansprechpartner:
Dr. Toni Beckmann

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