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ZiC - Interferenz Kontrast

DIC (Differential-Interferenz-Kontrast) ist eine Methode um die Abbildungsqualität zu erhöhen und wird in vielen optischen Mikroskop-Systemen eingesetzt.

Zeta Instruments hat diese Methode weiterentwickelt und bietet seinen Nutzern die Möglichkeit, die hochauflösenden Interferenz Kontrast Abbildungen in Oberflächenrauhigkeitwerte zu konvertieren. Die ZiC Option ermöglicht die Inspektion extrem glatter Oberflächen mit Rauhigkeiten in der Größenordnung von 5Å. Kritische Defekte auf Wafern und Plattensubstrate oder Dünnfilm Verunreinigungen können mit der Option ZiC im handumdrehen vermessen werden.

Die ZiC-Technik ist Objektiv unabhängig und benötigt keine speziellen Objektive. Das Zeta Instruments Optikmodul kann mit Standardobjektiven bestückt werden, um hochauflösende ZiC Bilder zu erzeugen.


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Kennziffer: 507
Ansprechpartner:
Thomas Walter

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